Presso il Servizio Tecnologia delle Superfici e Superconduttività è presente un laboratorio di caratterizzazione equipaggiato della seguente strumentazione:
- Diffrattometro attrezzato per l’analisi delle polveri, film sottili e culla di Eulero
- Profilometro Dektak per l’analisi delle superfici topografiche e quantificazione
- Microscopio ottico Zeiss
- Microscopio ottico confocale a scansione laser 3D Keyence (VK-X3100)
- Microscopio elettronico a scansione ed emissione di campo (FE-SEM) Hitachi SU5000 e Spettroscopia a dispersione di raggi X (EDX)
